晶圓非接觸法電阻率測量儀主要透過四探針法測試單晶矽電阻率◕•▩↟，具有自動定位的三座標自動測量系統◕•▩↟，可以自由設定測量點數量◕•▩↟，自動測試完成◕•▩↟，可以對測試出的資料進行2D成像◕•▩↟，是智慧化◕·│✘☁、整合化很高的晶圓電阻率測試儀器☁₪•。

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